[发明专利]金属栅极形成方法有效
申请号: | 201110422106.7 | 申请日: | 2011-12-15 |
公开(公告)号: | CN103165429A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 曹均助;蒋莉;黎铭琦;朱普磊 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种金属栅极形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上形成有第一伪栅和第二伪栅;除去所述第二伪栅,形成第二沟槽,在所述第二沟槽侧壁、底部表面形成第二功能层和第二牺牲层;除去第一区域的第二牺牲层和第二功能层,暴露出所述第一伪栅;除去所述第一伪栅,形成第一沟槽,在所述第一沟槽侧壁、底部表面形成第一功能层和第一牺牲层;除去所述第一牺牲层和第二牺牲层,在所述第一功能层和第二功能层表面形成金属电极层,对所述金属电极层、第一功能层和第二功能层进行化学机械研磨工艺,形成第一金属栅极和第二金属栅极。由于只需要一次化学机械研磨工艺研磨金属电极层形成金属栅极,可有效地控制金属栅极的高度。 | ||
搜索关键词: | 金属 栅极 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种金属栅极形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底包括第一区域和第二区域,所述半导体衬底的第一区域上形成有第一伪栅,所述半导体衬底的第二区域上形成有第二伪栅,所述半导体衬底表面形成覆盖第一伪栅和第二伪栅的层间介质层;对所述层间介质层进行平坦化直到暴露出所述第一伪栅和第二伪栅;除去所述第二伪栅,形成第二沟槽,在所述第二沟槽侧壁、底部、及层间介质层表面形成第二功能层,在所述第二功能层表面形成第二牺牲层;除去第一区域的第二牺牲层和第二功能层,暴露出所述第一伪栅;除去所述第一伪栅,形成第一沟槽,在所述第一沟槽侧壁、底部、层间介质层、及第二牺牲层表面形成第一功能层,在所述第一功能层表面形成第一牺牲层;除去所述第一牺牲层和第二牺牲层,暴露出所述第一功能层和第二功能层;在所述第一功能层和第二功能层表面形成金属电极层,对所述金属电极层、第一功能层和第二功能层进行化学机械研磨工艺,形成第一金属栅极和第二金属栅极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造