[发明专利]测量触摸屏上导电膜的方法无效
| 申请号： | 201110422251.5 | 申请日： | 2011-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN102564288A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 杨世光 | 申请（专利权）人： | 东莞中逸电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06;G01N27/20 |
| 代理公司： | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人： | 彭长久 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市黄江镇*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种测量触摸屏上导电膜的方法，包括步骤：a）预设不同面电阻值所对应膜厚度值；b）利用阵列排列探针于导电膜上采集n个电阻值；c）摒弃边缘区域之控针的的电阻值；d）在非边缘区的电阻值中任选至少三个相邻探针的电阻值，计算出所选之电阻值形成的面电阻值，依该方法重复对前述非边缘区的其它电阻值进行选择计算，获得m个面电阻值；e）比较上述m个面电阻值，若各个面电阻值差值在阙值范围内，则视为导电膜的厚度为均匀，否则为不均匀；f）将上述m个面电阻值进行优化计算，获得面电阻值平均值并依前述步骤a)的预设找出对应的膜厚度值，完成导电膜厚度的测量。其测量方法简单、方便、时间短、效率高且成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 触摸屏 导电 方法 | ||
【主权项】：
一种测量触摸屏上导电膜的方法，其特征在于：包括如下步骤：a）预设不同面电阻值所对应的膜厚度值；b）利用阵列排列的探针于导电膜上采集n 个电阻值，各电阻值分别为相邻两探针之间的电阻值，形成电阻值集合；c）摒弃边缘区域之控针的的电阻值；d）在非边缘区的电阻值中任选至少三个相邻探针的电阻值，计算出该所选之电阻值形成的面电阻值，依该方法重复对前述非边缘区的其它电阻值进行选择计算，获得 m 个面电阻值；e）比较上述 m 个面电阻值，若各个面电阻值的差值在阙值范围内，则视为导电膜的厚度为均匀，否则为不均匀；f）将上述 m 个面电阻值进行优化计算，获得面电阻值的平均值并依前述步骤a)的预设找出对应的膜厚度值，完成导电膜厚度的测量。
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