[发明专利]基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法

摘要

本发明提供一种基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法，首先需要获取复合绝缘子的高光谱影像，然后对得到的高光谱影像进行预处理，选取训练样本，建立复合绝缘子老化模型，用最小二乘的方法来解算老化模型参数，得到复合绝缘子老化定量模型，最后，用老化模型判断复合绝缘子的老化程度。本发明可以定量的描述复合绝缘子的老化程度，根据复合绝缘子老化程度的定量化，可以判定复合绝缘子是否还具备电气绝缘性能，以便及时更换劣化的复合绝缘子。

主权项

一种基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)用高光谱成像仪对复合绝缘子成像，获取复合绝缘子的高光谱影像；2)影像预处理：对复合绝缘子的影像进行预处理，包括几何校正、滤波去噪、辐射校正，以获得较为精确的光谱信息；3)选取训练样本：其步骤包括确定状态数、选取每种状态的样区、取均值，得到每种状态的均值样本；4)建立复合绝缘子老化模型：首先量化老化程度，接着提取光谱特征，然后建立复合绝缘子老化模型；5)解算老化模型参数：采用最小二乘法解算老化模型的参数；6)用老化模型判断复合绝缘子的老化程度：从高光谱影像上提取一串复合绝缘子的全部区域，确定复合绝缘子的像素区域，然后用老化模型逐个判断区域内像素的老化系数，对区域内所有像素的老化程度取均值，即可得到复合绝缘子的老化程度。