[发明专利]一种集成电路测试仪在线编程的动态配置方法

摘要

本发明公开了一种集成电路测试仪在线编程动态配置方法，通过在下位机中设置启动闪存选择引脚，用于在测试程序出错的情况下，微处理器直接从NorFlash闪存中取指令执行，等待下载测试程序，用于集成电路的测试；而正常的情况下，通过将NandFlash闪存的数据直接拷贝到外接的SDRAM存储器运行，进行测试任务，如果在测试过程中接收到上位机发送的测试程序，则自动将下载的测试程序存入NandFlash闪存中并覆盖之前的测试程序，然后自动重启并根据新的测试程序进行测试。这样，就不需要进行存储器切换，因此可快速且可根据用户需求动态配置测试环境。同时，集成电路测试仪的下位机可以脱离上位机独立运行，实现快速测试及动态配置。

主权项

一种集成电路测试仪在线编程的动态配置方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、在集成电路测试仪的上位机中，上电后用户可以选择是否重新编写测试程序，如果重新编写测试程序，则上位机将新编写的测试程序进行编译后通过USB接口向下位机下载，下载成功后，等待下位机通过USB接口返回测试结果，如果有返回测试结果，则接收测试结果并保存；如果不需要重新编写测试程序，则直接等待下位机通过USB接口返回测试结果，如果有返回测试结果，则接收测试结果并保存；(2)、在集成电路测试仪的下位机中，将微处理器的一外部引脚定义为启动闪存选择引脚，用户在测试程序出错的情况下，将启动闪存选择引脚电平设置NorFlash闪存启动对应的电平，否则，设置为NandFlash闪存启动对应的电平；下位机上电后，微处理器根据启动闪存选择引脚的电平，决定从NorFlash闪还是从NandFlash闪存启动；如果从NandFlash闪存中启动则代表测试仪目前的状态为运行模式，微处理器将NandFlash闪存中前段的启动程序自动拷贝到它内部的SRAM存储器中，微处理器运行启动程序，把前段的启动程序和后一段的测试程序从NandFlash闪存中拷贝到外接的SDRAM存储器中，然后从SDRAM存储器中取指令开始执行，进行测试任务，然后将测试结果通过USB接口返回上位机；在测试过程中，如果接收到上位机发送的数据，则判断是否为测试程序，如果是，则将该测试程序存入NandFlash闪存中并覆盖之前的测试程序，然后自动重启并根据新的测试程序进行测试；如果从NorFlash闪存启动，则代表测试仪器目前的状态为下载模式，微处理器直接从NorFlash闪存中读取引导程序和下载程序并执行，初始化USB接口完成后开始等待测试程序下载，下载成功后微处理器将测试程序直接写入到NandFlash闪存中，覆盖之前的测试程序，然后用户再重新设置启动闪存选择引脚的电平，切换回运行模式，并重新启动。