[发明专利]一种在转接板上实现电绝缘的方法有效

专利信息
申请号: 201110427183.1 申请日: 2011-12-19
公开(公告)号: CN102496579A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 戴风伟;于大全;周静 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种完全绝缘、工艺简单的在含有TSV的转接板上制作金属再布线层时实现电绝缘的方法,首先采用湿法刻蚀的方式用碱性腐蚀溶液反向刻蚀硅基底,在TSV周围形成沟槽,选用碱性腐蚀溶液既可以刻蚀硅基底又能避免TSV中金属材料的腐蚀。然后在沟槽内制作绝缘材料,再在绝缘材料上方制作金属再布线层,完成金属化步骤,避免了开小孔方式,解决了可靠性差的问题,又实现了制作金属再布线层时的电绝缘。
搜索关键词: 一种 转接 实现 绝缘 方法
【主权项】:
一种在含有TVS结构的半导体基板实现电绝缘的方法,其特征在于,包括如下步骤:A在一半导体基底上至少有一个TSV结构,所述TSV结构从所述半导体基底的上表面延伸到下表面,所述TSV结构的侧壁包括一绝缘层,所述TSV结构内包括导电材料;B  湿法刻蚀所述半导体基底的上表面,使所述TSV结构一端曝露出所述半导体基底上表面;C在所述半导体基底的上表面制作绝缘材料,整平所述半导体基底的上表面,并使所述TSV结构一端曝露出所述半导体基底上表面;D在所述半导体基底的上表面的绝缘材料上制作金属再布线层。
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