[发明专利]一种在转接板上实现电绝缘的方法有效
申请号: | 201110427183.1 | 申请日: | 2011-12-19 |
公开(公告)号: | CN102496579A | 公开(公告)日: | 2012-06-13 |
发明(设计)人: | 戴风伟;于大全;周静 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种完全绝缘、工艺简单的在含有TSV的转接板上制作金属再布线层时实现电绝缘的方法,首先采用湿法刻蚀的方式用碱性腐蚀溶液反向刻蚀硅基底,在TSV周围形成沟槽,选用碱性腐蚀溶液既可以刻蚀硅基底又能避免TSV中金属材料的腐蚀。然后在沟槽内制作绝缘材料,再在绝缘材料上方制作金属再布线层,完成金属化步骤,避免了开小孔方式,解决了可靠性差的问题,又实现了制作金属再布线层时的电绝缘。 | ||
搜索关键词: | 一种 转接 实现 绝缘 方法 | ||
【主权项】:
一种在含有TVS结构的半导体基板实现电绝缘的方法,其特征在于,包括如下步骤:A在一半导体基底上至少有一个TSV结构,所述TSV结构从所述半导体基底的上表面延伸到下表面,所述TSV结构的侧壁包括一绝缘层,所述TSV结构内包括导电材料;B 湿法刻蚀所述半导体基底的上表面,使所述TSV结构一端曝露出所述半导体基底上表面;C在所述半导体基底的上表面制作绝缘材料,整平所述半导体基底的上表面,并使所述TSV结构一端曝露出所述半导体基底上表面;D在所述半导体基底的上表面的绝缘材料上制作金属再布线层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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