[发明专利]无隔圈四列圆锥滚子轴承的轴向游隙的合套测量方法有效
申请号: | 201110427575.8 | 申请日: | 2011-12-20 |
公开(公告)号: | CN102564381A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 马岩;王风刚;栾树林;王衍涛 | 申请(专利权)人: | 瓦房店冶矿轴承制造有限公司 |
主分类号: | G01B21/16 | 分类号: | G01B21/16 |
代理公司: | 沈阳利泰专利商标代理有限公司 21209 | 代理人: | 王东煜 |
地址: | 116300 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 无端面四列圆锥滚子轴承的轴向缝隙的合套测量方法,包括第一步进行支承内圈端面C面、支承内圈端面A面和支承内圈端面E面的测量,第二步测量外圈A面和支承内圈端面C面,第三步测量外圈E面和支承内圈端面C面。本发明的优点在于:可取消内外三个隔圈,减少轴承零部件,以内圈端面为基准另度位,直接测量外圈端面落差,测量方便,合套简明易懂,计算简单。 | ||
搜索关键词: | 无隔圈四列 圆锥 滚子 轴承 轴向 游隙 测量方法 | ||
【主权项】:
无隔圈四列圆锥滚子轴承的轴向游隙的合套测量方法 ,设外圈AB及ED端面尺寸公差设为a,外圈BC及DC端面尺寸公差设为b,内圈端面尺寸公差设为c,游隙设为A ~ B,其特征包括下述步骤:第一步:首先进行支承内圈端面C面、支承内圈端面A面和支承内圈端面E面的测量;以内圈端面为基准零位,测量外圈端面低于内圈端面A/2 ~B/2,即‑A/2 ~ ‑B/2;如果测量的值大于‑A/2,在保证装配高的情况下,磨削外圈端面C面至‑A/2 ~ ‑B/2;如果测量的值小于‑B/2,在保证装配高的情况下,磨削内圈端面C面至‑A/2 ~ ‑B/2;第二步:测量外圈A面、支承内圈端面C面:以内圈端面为基准零位,测量外圈端面低于内圈端面A/2‑a‑b ~ B/2‑a‑b,即‑(A/2‑a‑b)~‑(B/2‑a‑b),由于外圈AB端面尺寸公差为a,外圈BC端面尺寸公差为b,合套后游隙为a+b‑(‑(A/2‑a‑b)~‑(B/2‑a‑b))+(A/2~B/2)=A~Bmm;如果测量的值大于‑(A/2‑a‑b)磨削外圈滚道,至‑(A/2‑a‑b)~ ‑(B/2‑a‑b);如果测量的值小于‑(B/2‑a‑b)磨削外圈AB端面B面,此时测量值不变,但游隙变小;第三步:测量外圈E面、支承内圈端面C面:以内圈端面为基准零位,测量外圈端面低于内圈端面A/2‑a‑b ~ B/2‑a‑b,即‑(A/2‑a‑b)~‑(B/2‑a‑b),由于外圈ED端面尺寸公差为a,外圈DC端面尺寸公差为b,合套后游隙为a+b‑(‑(A/2‑a‑b)~‑(B/2‑a‑b))+(A/2~B/2)=A~Bmm;如果测量的值大于‑(A/2‑a‑b)磨削外圈滚道,至‑(A/2‑a‑b)~ ‑(B/2‑a‑b);如果测量的值小于‑(B/2‑a‑b)磨削外圈ED端面D面,此时测量值不变,但游隙变小。
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