[发明专利]高纯钴靶材的制备方法无效

专利信息
申请号: 201110431047.X 申请日: 2011-12-20
公开(公告)号: CN102424940A 公开(公告)日: 2012-04-25
发明(设计)人: 姚力军;相原俊夫;大岩一彦;潘杰;王学泽;袁海军 申请(专利权)人: 宁波江丰电子材料有限公司
主分类号: C22F1/10 分类号: C22F1/10;C21D8/00;C23C14/34;C23C14/14
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 315400 浙江省宁波市余姚*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种高纯钴靶材的制备方法,包括:对高纯钴锭进行多次锻造;把多次锻造后的钴锭进行退火处理;经过退火处理后的钴锭进行多次压延形成钴靶坯;对多次压延形成后的钴靶坯进行最终再结晶退火处理。本发明主要通过控制塑性变形的变形率,热处理的温度、时间,以及多次的特定变形率的塑性变形和特定温度下的热处理相结合的方法来实现制作满足半导体溅射用钴靶材晶粒尺寸要求和晶粒取向要求的钴靶材。
搜索关键词: 高纯 钴靶材 制备 方法
【主权项】:
一种高纯钴靶材的制备方法,其特征在于,包括:对高纯钴锭进行多次锻造;对多次锻造后的钴锭进行退火处理;对经过退火处理后的钴锭进行多次压延形成钴靶坯;对钴靶坯进行最终再结晶退火处理。
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