[发明专利]制造半导体设备的方法、半导体设备以及使用该半导体设备的点火器有效
申请号: | 201110433708.2 | 申请日: | 2011-12-21 |
公开(公告)号: | CN102593020A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 香月尚 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/495;F02P1/00;F02P3/00;F02P9/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 朱立鸣 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 根据本发明的制造半导体设备的方法包括如下步骤:将焊料31涂覆到引线框30的上表面上的预定区域上;将芯片32安装在焊料31上;用热板33熔化焊料31,以将芯片32接合到引线框30;用接合导线34来配线;将引线框30倒置;将倒置的引线框30放置到加热台35上;涂覆熔点低于焊料31的熔点的焊料36;将电子部件37安装在焊料36上;以及,用加热台35来熔化焊料36,以将电子部件37接合到引线框30。借助于焊料36的接合在高环境温度下进行。半导体设备及其制造方法便于将半导体装置和电子部件安装在为形成配线电路而被划分的引线框的两表面上,而不经过复杂的制造步骤。 | ||
搜索关键词: | 制造 半导体设备 方法 以及 使用 点火器 | ||
【主权项】:
一种制造半导体设备的方法,所述方法包括下列步骤:使引线框的第一表面朝上,所述引线框包括引线部分和为形成配线电路而被划分的配线电路部分;使用第一接合材料将半导体装置接合到所述配线电路部分的部件安装平面;使用所述第一接合材料来接合第一电子部件,以桥接所述配线电路部分之间的间隙;用接合导线连接所述半导体装置和所述配线电路部分;使所述引线框上下翻转,以使所述引线框的第二表面朝上;在比所述第一电子部件的接合温度低的温度下使用第二接合材料将第二电子部件接合到所述引线框的第二表面,以桥接配线电路部分之间的间隙;以及用模压树脂密封所述引线框的两侧。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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