[发明专利]用于分层照相检验的方法和设备无效
申请号: | 201110437105.X | 申请日: | 2011-12-15 |
公开(公告)号: | CN102539456A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | D·米什拉;W·R·罗斯;F·F·霍普金斯;K·J·弗鲁特希;C·比诺 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01B15/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯广华;朱海煜 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明名称为用于分层照相检验的方法和设备。在一些实施例中,一种成像系统(10)包括:多焦点X射线源(14),其配置成生成至少两个X射线束(26)并将每个生成的X射线束(26)以不同角度逐个向视场投射,而基本不旋转或平移多焦点X射线源(14)。系统(10)还可包括与多焦点X射线源(14)相对的检测器(20),它与视场相关并配置成接收从每个不同角度投射的X射线束(26)的至少一部分,以及产生对应于每个不同角度的、视场的至少两个X射线投影图像,其中每个X射线投影图像配置成互相相对移动并相加,以重构视场的平面。 | ||
搜索关键词: | 用于 分层 照相 检验 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种成像系统(10),包括:多焦点X射线源(14),配置成生成至少两个X射线束(26)并将每个所生成的X射线束(26)以不同角度逐个向视场投射,而基本不旋转或平移所述多焦点X射线源(14);与所述多焦点X射线源(14)相对的检测器(20),与所述视场相关并配置成接收从每个所述不同角度所投射的X射线束(26)的至少一部分,以及产生对应于每个所述不同角度的、所述视场的至少两个X射线投影图像,其中每个所述X射线投影图像配置成互相相对移动并相加,以重构所述视场的平面。
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