[发明专利]半导体装置的制造方法以及半导体装置有效
申请号: | 201110437252.7 | 申请日: | 2007-10-31 |
公开(公告)号: | CN102522504A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 藤井严;高桥绘里香 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L51/05 | 分类号: | H01L51/05;H01L51/40;G02F1/167 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 叶晓勇;朱海煜 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的一种半导体装置的制造方法包括如下步骤:在透光衬底上形成栅电极;在所述栅电极和所述衬底上形成包含无机材料的栅绝缘层;在所述绝缘层上形成包含光聚合反应基的有机层;将所述栅电极用作掩模,且通过将来自所述衬底的背面的光照射到所述有机层选择性地聚合所述有机层;通过去除所述有机层的聚合以外的剩余部分,形成有机聚合层;在形成了所述有机聚合层的区域以外的区域的所述栅绝缘层上形成具有水解基的有机硅烷膜;通过在所述有机聚合层上涂敷包含导电材料的组成物形成源电极及漏电极;以及在所述栅电极、所述源电极、以及漏电极上形成半导体层。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 以及 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括:在透光衬底上的栅电极层;在所述栅电极层上的包含无机材料的栅绝缘层;在所述栅绝缘层上并且不与所述栅电极层重叠的区域中的有机聚合层;在所述有机聚合层上的源电极层及漏电极层;以及在所述栅绝缘层、所述源电极层和所述漏电极层上的半导体层,其中,所述半导体层包括氧化物半导体层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择
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