[发明专利]一种镁合金表面碳化钨涂层断口的扫描电镜制样方法无效
申请号: | 201110444646.5 | 申请日: | 2011-12-27 |
公开(公告)号: | CN103185676A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 魏玉顺 | 申请(专利权)人: | 国家纳米技术与工程研究院 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28 |
代理公司: | 天津天麓律师事务所 12212 | 代理人: | 卢枫 |
地址: | 300457 天津市塘沽*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种镁合金表面碳化钨涂层断口的扫描电镜制样方法,具体步骤如下:用切割设备将镁合金试样切割为小尺寸长方体;用高精度切割设备切割镁合金基体,得到镁合金薄片试样;用切割设备在镁合金薄片试样的两个长边的相对位置各切出一个切口;用无水乙醇超声清洗;把镁合金薄片试样浸入液氮中,直到达到热平衡;将镁合金薄片试样掰断;将镁合金薄片试样从液氮中取出,放在滤纸上,马上用吹风机吹干,得到干净整齐的镁合金薄片试样断口试样。本发明的优越性:1、制样方法简单方便;2、得到的试样干净,无污染;3、得到的试样整齐,利于扫面电镜的形貌分析测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 镁合金 表面 碳化 涂层 断口 扫描电镜 方法 | ||
【主权项】:
一种镁合金表面碳化钨涂层断口的扫描电镜制样方法,其特征在于具体步骤如下:(1)取一份在镁合金基体表面附有碳化钨涂层的镁合金试样;(2)由于扫面电镜样品室尺寸相对较小,要先得到一个小尺寸的镁合金试样,用高精度切割设备将镁合金试样切割为宽为5‑20mm、长为20‑30mm、高为5‑20mm的长方体;(2)精细切割:用高精度切割设备沿平行于涂层的方向切割镁合金基体,得到一个带有碳化钨涂层的镁合金薄片试样,镁合金薄片试样的厚度为1.5‑2mm;(3)用高精度切割设备在镁合金薄片试样的两个相对边缘的相对位置各切出一个切口;(4)用无水乙醇超声清洗镁合金薄片试样5‑20分钟,以去除加工过程中引入的污染物;(5)把镁合金薄片试样浸入带有液氮的杜瓦瓶中3‑10分钟,待镁合金薄片试样表面无气泡产生时,镁合金薄片试样与液氮达到热平衡;(6)用两把干净的钳子伸入液氮中,分别夹持镁合金薄片试样无切口的两端,将碳化钨涂层朝上,用力掰断;(7)将掰断后的镁合金薄片试样从液氮中取出,放在干净的滤纸上,用吹风机吹干表面凝结的水汽,得到干净整齐的镁合金薄片断口试样。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家纳米技术与工程研究院,未经国家纳米技术与工程研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110444646.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。