[发明专利]高集成高可靠工作温度可控厚膜混合集成电路的集成方法无效
申请号: | 201110446104.1 | 申请日: | 2011-12-28 |
公开(公告)号: | CN102446804A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 杨成刚;苏贵东 | 申请(专利权)人: | 贵州振华风光半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/70 | 分类号: | H01L21/70 |
代理公司: | 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 | 代理人: | 刘安宁 |
地址: | 550018 贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 高集成高可靠工作温度可控厚膜混合集成电路及其集成方法,该电路由器件管壳基座(1)、管脚(9)、氮化铝陶瓷基片(2)、半导体芯片(3)、热敏元件(4)、厚膜阻带(5)、厚膜导带/键合区(6)、N型半导体(7)、P型半导体(8)、微型热电致冷器(11)和绝缘介质(10)组成,陶瓷基片(2)正面是微型热电致冷器(11)与常规混合集成电路的一体化集成;N型半导体(7)、P型半导体(8)两端引有连接线,之间填充绝缘介质(10);陶瓷基片(2)置于器件管壳基座(1)之上。集成方法是高真空溅射并进行刻蚀形成金属电极、N型半导体、P型半导体。本集成电路可以解决外界温度在125℃以上或-55℃以下的正常工作问题。广泛应用于航天、航空、船舶、精密仪器、地质勘探、石油勘探、通讯等领域。 | ||
搜索关键词: | 集成 可靠 工作温度 可控 混合 集成电路 方法 | ||
【主权项】:
一种高集成高可靠工作温度可控厚膜混合集成电路,其特征在于该电路由器件管壳基座(1)、管脚(9)、氮化铝陶瓷基片(2)、半导体芯片(3)、热敏元件(4)、厚膜阻带(5)、厚膜导带/键合区(6)、N型半导体(7)、P型半导体(8)、微型热电致冷器(11)和绝缘介质(10)组成,陶瓷基片(2)正面是微型热电致冷器(11)与常规混合集成电路的一体化集成,包括厚膜阻带(5)、厚膜导带/键合区(6)、半导体芯片(3)、N型半导体(7)、P型半导体(8)和微型元器件;N型半导体(7)、P型半导体(8)的两端引出有连接线,之间填充有绝缘介质(10);陶瓷基片(2)背面通过金属膜置于器件管壳基座(1)之上,管脚(9)装在器件管壳基座(1)的两端。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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