[发明专利]一种砷化镓单晶线切割基准面的加工方法有效

专利信息
申请号: 201110452091.9 申请日: 2011-12-29
公开(公告)号: CN103182750A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 李超;林泉;郑安生;龙彪 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院;有研光电新材料有限责任公司
主分类号: B28D5/04 分类号: B28D5/04
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 程凤儒
地址: 100088 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种砷化镓单晶线切割基准面的加工方法,包括:(1)使用X射线衍射定向仪对晶体进行定向,定出<100>晶面;(2)使用内圆切片机切取<100>方向小面,将晶体固定在卡具上,调整晶体与刀片成45°夹角,开启切片机切取<100>面,作为固定割边基准面;(3)在晶体表面用丁字尺测绘出与<100>方向小面成90°夹角的<110>面,并用记号笔标记基准线;(4)将晶体固定于金刚石带锯割边机的卡具上,打开激光对刀功能,调整模拟割边路径,使激光对准基准线,启动带锯条调节进给速度,完成割边;(5)割边结束后,观察表面是否平整光滑进行细磨修正。该方法可以有效的保证晶体与石墨件连接处的平整度,提高切片晶向的准确性,同时在加工效率上比较手工磨平有大幅度的提高。
搜索关键词: 一种 砷化镓单晶线 切割 基准面 加工 方法
【主权项】:
一种砷化镓单晶线切割基准面的加工方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:(1)单晶定向:使用X射线衍射定向仪对晶体进行定向,定出<100>晶面;(2)切取割边机水平方向的基准面:使用内圆切片机切取<100>方向小面,将晶体固定在内圆切片机的卡具上,调整晶体与刀片成45°夹角,开启切片机切取<100>面,作为固定割边基准面;(3)测绘<110>切割面:在晶体表面用丁字尺测绘出与<100>方向小面成90°夹角的<110>面,并用记号笔标记基准线;(4)割边:将晶体固定于金刚石带锯割边机的卡具上,打开激光对刀功能,调整模拟割边路径,使激光对准基准线,启动带锯条调节进给速度,完成割边;(5)表面研磨:割边结束后,观察表面是否平整光滑进行细磨修正。
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