[发明专利]一种去除单晶硅片指纹印及重油污的方法无效
申请号: | 201110459532.8 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN103184524A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 叶俊;马超 | 申请(专利权)人: | 上海晶太光伏科技有限公司 |
主分类号: | C30B33/10 | 分类号: | C30B33/10;B08B3/08;C11D7/42;C23F1/32 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 马家骏 |
地址: | 201501 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明的目的在于公开一种去除单晶硅片指纹印及重油污的方法,它包括如下步骤:(a)对硅片进行预处理;(b)将硅片放入注入有制绒液的制绒槽中进行制绒;在上述至少一个步骤中加入活性酶;与现有技术相比,能够达到显著去除硅片表面指纹印和重油污的效果,制绒后绒面更加均匀,外观更好,有效减少了色斑的发生及由此带来的成品降级的问题,利于硅片后道工序的操作,实现本发明的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 去除 单晶硅 指纹 油污 方法 | ||
【主权项】:
一种去除单晶硅片指纹印及重油污的方法,其特征在于,它包括如下步骤:(a)对硅片进行预处理;(b)将硅片放入注入有制绒液的制绒槽中进行制绒;在上述至少一个步骤中加入活性酶。
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