[发明专利]薄层碳酸盐岩储层水平井的靶点调整方法有效

专利信息
申请号: 201110460116.X 申请日: 2011-12-31
公开(公告)号: CN102518433A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 张明禄;卢涛;冯强汉;王勇;王华;刘海锋;何鎏;夏勇;陈凤喜;张保国;蒙晓灵;薛云龙;王彩丽 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种薄层碳酸盐岩储层水平井的靶点调整方法包括以钻井资料为依托,小层对比为基础,结合地震横向预测成果,追踪井间标志层起伏,描述各标志层小幅度构造形态,建立小幅度构造精细地质模型,为水平井入靶做好准备;根据储层沉积特征与岩性变化特点,确定靶点调整时机、选取合适参考标志层,根据实钻标志层海拔值,对初始水平井靶点进行调整;建立水平井入靶地层对比方法,根据地层对比结果,可进一步细化所述标志层小幅度构造形态,进一步修正靶点。本发明利用常规地质导向技术手段,实现了薄层碳酸盐岩储层的精确入靶,保障了水平井开发效果。
搜索关键词: 薄层 碳酸盐 岩储层 水平 调整 方法
【主权项】:
一种薄层碳酸盐岩储层水平井的靶点调整方法,其特征在于,包括:以钻井资料为依托,小层对比为基础,结合地震横向预测成果,追踪井间标志层起伏,描述各标志层小幅度构造形态,建立小幅度构造精细地质模型,为水平井入靶做好准备;根据储层沉积特征与岩性变化特点,确定靶点调整时机、选取合适参考标志层,根据实钻标志层海拔值,对初始水平井靶点进行调整;建立水平井入靶地层对比方法,根据地层对比结果,可进一步细化所述标志层小幅度构造形态,进一步修正靶点。
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