[发明专利]一种光探测器线性范围的测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201110461218.3 | 申请日： | 2011-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN102721528A | 公开（公告）日： | 2012-10-10 |
| 发明（设计）人： | 郭维新;袁秀丽;杨庆坤;李妙堂 | 申请（专利权）人： | 北京滨松光子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100070 北京市丰台区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光探测器线性范围的测试装置及测试方法，该测试装置包括光源、探测系统以及位于二者之间的光处理系统，所述光处理系统包括减光装置和分光装置，所述减光装置包括偏振片组，所述分光装置包括一个专用减光片或者一个分光镜片，通过将专用减光片交互移出、移入测试光路，或者将分光镜片分别与参考探测器、被测探测器连接，以测试线性范围。本发明的线性范围测试装置光路设计简单、成本较低、测试精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探测器 线性 范围 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光探测器线性范围测试装置，包括光源和探测系统，其特征在于：在光源和探测系统之间设有光处理系统，所述光处理系统包括减光装置和分光装置，所述减光装置包括偏振片组，所述分光装置包括一个专用减光片或者一个分光镜片。
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