[实用新型]一种可更换式内存测试座在审
申请号: | 201120005714.3 | 申请日: | 2011-01-10 |
公开(公告)号: | CN201927361U | 公开(公告)日: | 2011-08-10 |
发明(设计)人: | 彭玉元 | 申请(专利权)人: | 彭玉元 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种内存测试座,具体是一种可实现同时对多个内存测试的可更换式内存测试座。该测试座,包括PCB板、PCB板上固定的测试座以及连接至电脑的USB接口,所述测试座为两个或两个以上,所述各测试座分别连接至USB座,USB座上连接测试方案,所述USB座通过集线器与所述USB接口连接,所述各测试座分别对应设有状态指示灯及控制开关。本实用新型在同一PCB板上同时集成多种不同的内存测试座,并且采用插接的方式连接各种不同的测试方案,从而可实现同时对多种不同的内存,单种或多种内存不同的测试方案同时进行测试的目的,不但大大提高检测效率,而且无需制造多个测试设备,降低了企业生产检测成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 更换 内存 测试 | ||
【主权项】:
一种可更换式内存测试座,包括PCB板、PCB板上固定的测试座以及连接至电脑的USB接口,其特征在于,所述测试座(3)为两个或两个以上,所述各测试座(3)分别连接至USB座(6),USB座(6)上连接测试方案(7),所述USB座(6)通过集线器(8)与所述USB接口(2)连接。
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