[实用新型]一种用于微量分光光度计的取样测量装置

摘要

本实用新型公开一种用于微量分光光度计的取样测量装置，属于微量分光光度计领域。其包括距离可调的上测量平台与下测量平台；上测量平台上设置有投射光纤座或接收光纤座，下测量平台上设置有接收光纤座或投射光纤座，所述投射光纤座以及接收光纤座上下对正且内部插有光纤；上测量平台上设置有第一顶丝，下测量平台上与所述第一顶丝相对应的位置设置有可以上下移动的升降座，和套设在所述升降座外与所述下测量平台固定的电磁铁磁缸；所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座相连接的检测单元，所述检测单元包括光电转换模块、数据接收模块、检测计算模块、数值校正模块、光程长度选择模块和检测数据输出模块。本实用新型通过加入数值校正模块对光程长度进行校正，可以使普通使用者在不用精确调整光程长度的情况下实现精确测量。

主权项

一种用于微量分光光度计的取样测量装置，其包括上测量平台（4）和下测量平台（5），所述上测量平台（4）与所述下测量平台（5）之间的距离可调； 在所述上测量平台（4）上设置有投射光纤座（3）或接收光纤座（6），在所述下测量平台（5）上设置有接收光纤座（6）或投射光纤座（3），所述投射光纤座（3）以及所述接收光纤座（6）分别与光纤相连接；所述投射光纤座（3）以及所述接收光纤座（6）上下对正，用于容纳待检样品；在所述上测量平台（4）上，设置有用于调节所述上测量平台（4）与所述下测量平台（5）之间距离的第一顶丝（1），在所述下测量平台（5）上与所述第一顶丝（1）相对应的位置设置有可以上下移动的升降座（7），和套设在所述升降座（7）外与所述下测量平台（5）固定的电磁铁磁缸（9）；所述上测量平台（4）与所述下测量平台（5）上下对正时，所述第一顶丝（1）的底端和所述升降座（7）的顶端相接触；其特征在于：所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座（6）相连接的检测单元（20），所述检测单元（20）包括光电转换模块、数据接收模块、检测计算模块、数值校正模块、光程长度选择模块和检测数据输出模块；所述光电转换模块和所述接收光纤座（6）通过光栅相连接，所述光电转换模块和所述数据接收模块相连接，将经光电转换后的电信号输入至所述数据接收模块；所述数据接收模块还分别和所述检测计算模块、数值校正模块以及光程长度选择模块相连接，所述检测计算模块接收所述数据接收模块输出的检测数据并对其进行计算，所述数值校正模块与所述检测计算模块连接，所述数值校正模块接收所述检测计算模块输出的计算结果并对该结果进行比对确定校正系数，并将该校正系数输入至所述数据接收模块，检测计算模块根据确定的校正系数进行吸光值计算；所述光程长度选择模块与所述检测计算模块连接，所述光程长度选择模块接收所述检测计算模块输出的计算结果并对该结果进行比对确定光程长度，并将选择的光程长度输入至所述数据接收模块，检测计算模块再根据相应所述光程长度进行计算；所述检测数据输出模块将所述检测计算模块计算得到的检测数值输出。