[实用新型]镭射测高检具有效
| 申请号： | 201120179483.8 | 申请日： | 2011-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN202126247U | 公开（公告）日： | 2012-01-25 |
| 发明（设计）人： | 史树杰 | 申请（专利权）人： | 应华精密表面处理(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种镭射测高检具，其包括一机架，所述机架上设有一放置产品用的平台，所述平台的一侧设有一镭射测高主机，所述镭射测高主机上设有可上下移动的探头，所述镭射测高主机与一LCD连接。该镭射测高检具在使用时，将产品放置在平台上，然后将探头射出的激光照射在产品上要检测高度的位置，这样镭射测高主机就可测出该产品要检测位置的高度，并通过LCD进行显示。该镭射测高检具结构简单、使用方便、制造成本低、测量精度高，能有效满足生产的需要，降低企业的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 镭射 测高 | ||
【主权项】：
一种镭射测高检具，其特征在于：其包括一机架，所述机架上设有一放置产品用的平台，所述平台的一侧设有一镭射测高主机，所述镭射测高主机上设有可上下移动的探头，所述镭射测高主机与一LCD连接。
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