[实用新型]基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储器测试结构无效
| 申请号： | 201120248833.1 | 申请日： | 2011-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN202120623U | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 谈恩民;马江波 | 申请（专利权）人： | 桂林电子科技大学 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 | 代理人： | 陆梦云 |
| 地址： | 541004 广西壮*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于IEEE1500的嵌入式SRAM存储器测试结构，该测试结构由嵌入式SRAM的测试壳封装与SRAM测试控制器两部分构成，测试封装壳解决了嵌入式SRAM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题，SRAM测试控制器根据测试算法生成测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果。应用该测试结构及测试方法，能够检测出嵌入式SRAM存储器存在的故障，有利于嵌入式SRAM存储器的测试复用，可以有效的提高SoC的集成效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ieee 1500 嵌入式 sram 存储器 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种基于IEEE 1500的嵌入式SRAM存储器测试结构，包括BIST测试控制器，其特征是：还包括嵌入式SRAM封装的基于IEEE 1500标准的测试壳Wrapper；所述测试壳接收BIST测试控制器送来的控制信号、指令信号、测试地址数据、测试激励数据，并将测试响应数据输出到BIST测试控制器，测试壳Wrapper围绕着被测嵌入式SRAM，测试壳中的各组成单元符合IEEE 1500标准功能描述。
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