[实用新型]半导体器件塑封抽真空装置有效

专利信息
申请号: 201120304656.4 申请日: 2011-08-19
公开(公告)号: CN202189760U 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 黄振忠;谢伟波;张伟洪;郭树源;蚁淡星 申请(专利权)人: 汕头华汕电子器件有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56
代理公司: 汕头市南粤专利商标事务所(特殊普通合伙) 44301 代理人: 何办君
地址: 515041 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及半导体器件封装技术领域,尤其是涉及半导体器件塑封抽真空装置。其包括有塑封机,塑封机上设有塑封模具,塑封模具合模后可形成密封空间,一真空容器罐通过真空管道连通塑封模具合模后形成的密封空间,于真空管道上设有抽气阀、放气阀及真空压力表,真空压力表通过压力信号线连接塑封机进行信号控制;所述真空容器罐与一真空泵连通。本实用新型通过抽真空,可使产品在真空工艺条件下外观质量得到明显改善,提升其成品率,符合产业利用及推广,其结构简单,科学合理,投资成本低,且操作运行简便,维护检修十分方便。
搜索关键词: 半导体器件 塑封 真空 装置
【主权项】:
半导体器件塑封抽真空装置,包括有塑封机(1),其特征在于:塑封机(1)上设有塑封模具(11),塑封模具(11)合模后可形成密封空间,一真空容器罐(2)通过真空管道(21)连通塑封模具(11)合模后形成的密封空间,于真空管道(21)上设有抽气阀(3)、放气阀(6)及真空压力表(4),真空压力表(4)通过压力信号线(41)连接塑封机(1)进行信号控制;所述真空容器罐(2)与一真空泵(5)连通。
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