[实用新型]一种太阳能电池片漏电位置检测装置有效
申请号: | 201120376269.1 | 申请日: | 2011-09-29 |
公开(公告)号: | CN202259208U | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 黄燕 | 申请(专利权)人: | 浙江向日葵光能科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L31/18 |
代理公司: | 绍兴市越兴专利事务所 33220 | 代理人: | 张谦 |
地址: | 312071 浙江省绍兴市袍江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开一种太阳能电池片漏电位置检测装置,属于太阳电池制造领域,包括稳压电源、漏电测试膜、金属导电板,其中被测电池片放置在金属导电板的上表面,且被测电池片有主栅线面朝上,稳压电源的正极与被测电池片的主栅线相接,稳压电源的负极与金属导电板相接,漏电测试膜贴合在被测电池片有主栅线面的上表面。本实用新型制造成本低,检测漏电位置快速、方便、准确。 | ||
搜索关键词: | 一种 太阳能电池 漏电 位置 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种太阳能电池片漏电位置检测装置,其特征在于:包括稳压电源、漏电测试膜、金属导电板,其中被测电池片放置在金属导电板的上表面,且被测电池片有主栅线面朝上,稳压电源的正极与被测电池片的主栅线相接,稳压电源的负极与金属导电板相接,漏电测试膜贴合在被测电池片有主栅线面的上表面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江向日葵光能科技股份有限公司,未经浙江向日葵光能科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120376269.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造