[实用新型]一种测试集成电路的单光子探测装置有效
| 申请号： | 201120407743.2 | 申请日： | 2011-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN202275141U | 公开（公告）日： | 2012-06-13 |
| 发明（设计）人： | 潘中良;陈翎;吴培亨 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学 |
| 主分类号： | G01R31/308 | 分类号： | G01R31/308 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 裘晖 |
| 地址： | 510631 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试集成电路的单光子探测装置。该装置包括用于对单光子探测器供电的高压电源、单光子探测器、放大器、用于减少暗电流及其干扰的鉴别器、控制单元、用于采集光子数目的计数单元和显示单元；其中，用于对单光子探测器供电的高压电源、单光子探测器、放大器、用于减少暗电流及其干扰的鉴别器和用于采集光子数目的计数单元依次连接；控制单元分别与用于对单光子探测器供电的高压电源、单光子探测器、用于采集光子数目的计数单元和显示单元连接。该装置可以直接对集成电路中的开路和短路故障进行检测与定位，从而改进集成电路芯片产品的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 集成电路 光子 探测 装置 | ||
【主权项】：
一种测试集成电路的单光子探测装置，其特征在于包括用于对单光子探测器供电的高压电源、单光子探测器、放大器、用于减少暗电流及其干扰的鉴别器、控制单元、用于采集光子数目的计数单元和显示单元；其中，用于对单光子探测器供电的高压电源、单光子探测器、放大器、用于减少暗电流及其干扰的鉴别器和用于采集光子数目的计数单元依次连接；控制单元分别与用于对单光子探测器供电的高压电源、单光子探测器、用于采集光子数目的计数单元和显示单元连接；控制单元控制对单光子探测器供电的高压电源的启动和关闭，控制单元控制单光子探测器的工作模式，用于采集光子数目的计数单元采集到的数据输入到控制单元中，经过控制单元处理，结果输出至显示单元，进行显示。
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