[实用新型]仪表测试线接触不良检测装置

摘要

本实用新型涉及一种仪表测试线接触不良检测装置，其包括采样控制信号发生器、第一级欠采样电路、第二级欠采样电路以及带通滤波器，采样控制信号发生器的第一输出端连接第一级欠采样电路的控制信号输入端，采样控制信号发生器的第二输出端连接第二级欠采样电路的控制信号输入端，第一级欠采样电路的信号输出端与第二级欠采样电路的信号输入端连接，第二级欠采样电路的信号输出端连接带通滤波器。本实用新型的优点在于成本低，能够将高频信号转变为低频信号，特别适用于元件检测装置中。

主权项

一种仪表测试线接触不良检测装置，其特征在于，包括：信号放大模块，该信号放大模块将测试线电压采样端信号进行信号幅度的放大；以及基准信号源模块，该基准信号源模块提供一个与电压采样信号不同频率的交流波；以及电压采样信号合成模块，将接收的信号放大模块的信号与基准信号源的信号进行合成，得到电压采样端合成信号；以及电压采样比较模块，将电压采样信号合成模块输出的信号与一设定的正、负电压进行比较，从而得到电压采样端是否接触不良的比较信号；以及为测试线电流驱动端的采样信号的电流驱动信号模块；以及电流采样比较模块，将电流驱动信号模块输出的电流采样信号与一设定的正、负电平进行比较，从而得到电流驱动端是否接触不良的比较信号；以及电平转换器开关模块，将对电压采样比较模块以及电流采样比较模块这二者的输出信号进行电平的转换，使其信号符合CPU的电平信号，并将电平转换后的信号输出给CPU；以及CPU，对电平转换器开关模块输出的信号进行计数，从而判别出当前测试线是否存在接触不良的情况；以及显示器，接收CPU的输出信号，显示测试线接触的情况。