[实用新型]检查装置有效
申请号: | 201120417763.8 | 申请日: | 2011-10-27 |
公开(公告)号: | CN202523695U | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
发明(设计)人: | 辻治之;木内智一 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/66 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本实用新型提供能以简易的结构防止基板的损伤而进行输送的检查装置,检查装置包括:输送台(20),具有用于支承基板并以沿输送方向输送基板的方式进行旋转的自由辊(201);驱动机构(30),用于使基板沿输送方向移动;定位销驱动部(202),设置于输送台的端部侧,用于保持与基板抵接的定位销(202a)并使定位销向输送方向移动;基准销驱动部(203),设置于检查单元和定位销驱动部之间,用于保持与基板抵接的基准销(203a)并驱动基准销而使基准销升降;端面检测部(204),用于检测基板的与输送方向平行的方向的端面;检查单元(100),用于根据端面检测部所检测出的端面的信息来进行基板的检查。 | ||
搜索关键词: | 检查 装置 | ||
【主权项】:
检查装置,其特征在于,包括:输送台,其具有用于支承基板并以沿输送方向输送该基板的方式进行旋转的辊;驱动机构,其用于使上述基板沿上述输送方向移动;定位构件驱动部,其设置于上述输送台的靠上述基板的输入侧的端部侧,用于保持与上述基板抵接的定位构件并使该定位构件向上述输送方向移动;端面检测部,其用于检测上述基板的与上述输送方向平行的方向的端面;检查部,其用于根据上述端面检测部所检测出的端面的信息来进行上述基板的检查;以及基准构件驱动部,其设置于上述检查部和上述定位构件驱动部之间,用于保持与上述基板抵接的基准构件并驱动该基准构件而使该基准构件升降。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造