[实用新型]玻璃基板残材检测装置有效
| 申请号： | 201120426859.0 | 申请日： | 2011-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN202305836U | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 王鹏伟;张海博;王大山;张彭;顾晓光 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01V8/10 | 分类号： | G01V8/10 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种玻璃基板残材检测装置，有效降低不良率以及节省报警的解决时间，包括检测台及与检测台配套设有的对位柱，所述对位柱包括X方向上两组对位柱和Y方向上至少一组对位柱；所述检测台上设有检测装置，且所述检测装置置于X方向上两组对位柱之间。本实用新型采用非接触式残材检测，有效地避免了玻璃基板边缘与对位柱发生磕伤导致产品出现不良现象，同时节省了清扫检测台上碎屑的时间；有效地避免了整条玻璃基板被挤碎导致整条玻璃基板出现不良现象，同时节省了清扫检测台及设备内部玻璃碎片的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 玻璃 基板残材 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种玻璃基板残材检测装置，包括检测台及与检测台配套设有的对位柱，其特征在于，所述对位柱包括X方向上两组对位柱和Y方向上至少一组对位柱；所述检测台上设有检测装置，且所述检测装置置于X方向上两组对位柱之间。
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