[实用新型]纳米标准器有效

专利信息
申请号: 201120460406.X 申请日: 2011-11-18
公开(公告)号: CN202329466U 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 傅志强;贺翠翠;郭俊诚;赵江勇;朱锦波;刘锡贝 申请(专利权)人: 天津出入境检验检疫局化矿金属材料检测中心
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 王凤英
地址: 300456*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型涉及测量器具中的一种纳米标准器。它包括圆形基底,在圆形基底上表面中心位置刻有十字线,在由十字线分成的四个象限中分别刻有不同图案的标准刻度,在标准刻度的外围刻有定位圆环,在对应定位圆环的上、下、左和右方向分别刻有水平双定位线和垂直双定位线,水平双定位线和垂直双定位线中分别刻有数字标记。本纳米标准器分辨率高,保证每个刻度周期线距的均匀性和一致性,选用石英Cr膜材料作为圆形基底材料,其膨胀系数低、性能稳定;本标准器设计独特,将横线、竖线、点阵和圆环形状的标准刻度于一体,可以满足不同形状样品的比对测量需求;为了便于寻找,还设计了定位标志,易于跟踪定位观察,从而解决了纳米尺度更准确的测量问题。
搜索关键词: 纳米 标准
【主权项】:
一种纳米标准器,其特征在于:包括圆形基底(1),在圆形基底(1)上表面中心位置刻有十字线(2),在由十字线(2)分成的四个象限中分别刻有不同图案的标准刻度(3),在标准刻度(3)的外围刻有定位圆环(4),在对应定位圆环(4)的上、下、左和右方向分别刻有水平双定位线(5)和垂直双定位线(6),在水平双定位线(5)和垂直双定位线(6)中分别刻有数字标记。
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