[实用新型]半导体发光器件的发光效率检测系统有效
| 申请号： | 201120522917.X | 申请日： | 2011-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN202339395U | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 杨新华;李浩;张昊明;张健;曹曙光;李季;徐民;张博;张轶鹏;鲁志军;刘缨;刘岩;项庆林 | 申请（专利权）人： | 黑龙江省计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01M11/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 牟永林 |
| 地址： | 150036 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 半导体发光器件的发光效率检测系统，属于半导体发光器件的检测技术领域。它解决了目前对半导体发光器件的发光效率的测量效率非常低的问题。它的待测半导体发光器件置于积分球内，并串联在标准功率源的两个电流输出端之间，标准功率源的控制信号输入端连接单片机的控制信号输出端，待测半导体发光器件的阴极和阳极分别连接结电压测量模块的两个电压信号输入端，结电压测量模块的电压信号输出端连接单片机的电压信号输入端，光电传感器用于接收待测半导体发光器件的光通量信号，并输出给光通量测量模块，光通量测量模块的光通量信号输出端连接单片机的光通量信号输入端。本实用新型用于检测半导体发光器件的发光效率。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 发光 器件 效率 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种半导体发光器件的发光效率检测系统，它包括积分球(1)，其特征在于：它还包括标准功率源(2)、结电压测量模块(3)、光通量测量模块(4)、单片机(5)和光电传感器(6)，待测半导体发光器件置于积分球(1)内，该半导体发光器件串联在标准功率源(2)的两个电流输出端之间，标准功率源(2)的控制信号输入端连接单片机(5)的控制信号输出端，待测半导体发光器件的阴极和阳极分别连接结电压测量模块(3)的两个电压信号输入端，结电压测量模块(3)的电压信号输出端连接单片机(5)的电压信号输入端，光电传感器(6)用于接收待测半导体发光器件的光通量信号，光电传感器(6)的光通量信号输出端连接光通量测量模块(4)的光通量信号输入端，光通量测量模块(4)的光通量信号输出端连接单片机(5)的光通量信号输入端。
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