[实用新型]一种开发调试装置有效
申请号: | 201120525309.4 | 申请日: | 2011-12-15 |
公开(公告)号: | CN203101586U | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 李进;李国宁;王文华;张宁;朱鹏 | 申请(专利权)人: | 李进;李国宁;王文华;张宁;朱鹏 |
主分类号: | G01R31/3177 | 分类号: | G01R31/3177 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 130033 吉林省长春市经济开发区东*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本实用新型公开一种开发调试装置,涉及电路设计领域。适用于FPGA系统的开发调试装置和FPGA系统。将待查看的FPGA系统内某个或某块数据内容从待测试信号接口输入到DSP处理器中,DSP处理器将输入数据块缓存到SRAM中,或将输入数据赋给DSP中定义的变量,利用DSP调试软件查看DSP某段数据或某变量的变化过程,实时监控FPGA内部数据处理工作过程。当需分析FPGA内部数据处理中间过程或者处理结果数据时,将待查看数据通过DSP使用USB传输到PC机上进行分析数据处理各阶段的工作状况。当需查看FPGA内部信号波形关系时,通过示波器接口使用示波器实时地查看。 | ||
搜索关键词: | 一种 开发 调试 装置 | ||
【主权项】:
一种开发调试装置,其特征在于,适用于FPGA系统的开发调试;其中,所述开发调试装置包括:DSP处理器、SRAM数据存储器、CPLD、异步串行接口、电平转换单元、JTAG接口、待测试信号接口;所述DSP处理器分别与SRAM数据存储器、CPLD、电平转换单元、JTAG接口和待测试信号接口电连接;所述电平转换单元与异步串行接口电连接;所述FPGA系统包括:待测试信号插座,所述插座的各引脚分别与FPGA系统内部IO接口相连;所述待测试信号插座与所述待测试信号接口相匹配。
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