[实用新型]一种开发调试装置有效

专利信息
申请号: 201120525309.4 申请日: 2011-12-15
公开(公告)号: CN203101586U 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 李进;李国宁;王文华;张宁;朱鹏 申请(专利权)人: 李进;李国宁;王文华;张宁;朱鹏
主分类号: G01R31/3177 分类号: G01R31/3177
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 130033 吉林省长春市经济开发区东*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开一种开发调试装置,涉及电路设计领域。适用于FPGA系统的开发调试装置和FPGA系统。将待查看的FPGA系统内某个或某块数据内容从待测试信号接口输入到DSP处理器中,DSP处理器将输入数据块缓存到SRAM中,或将输入数据赋给DSP中定义的变量,利用DSP调试软件查看DSP某段数据或某变量的变化过程,实时监控FPGA内部数据处理工作过程。当需分析FPGA内部数据处理中间过程或者处理结果数据时,将待查看数据通过DSP使用USB传输到PC机上进行分析数据处理各阶段的工作状况。当需查看FPGA内部信号波形关系时,通过示波器接口使用示波器实时地查看。
搜索关键词: 一种 开发 调试 装置
【主权项】:
一种开发调试装置,其特征在于,适用于FPGA系统的开发调试;其中,所述开发调试装置包括:DSP处理器、SRAM数据存储器、CPLD、异步串行接口、电平转换单元、JTAG接口、待测试信号接口;所述DSP处理器分别与SRAM数据存储器、CPLD、电平转换单元、JTAG接口和待测试信号接口电连接;所述电平转换单元与异步串行接口电连接;所述FPGA系统包括:待测试信号插座,所述插座的各引脚分别与FPGA系统内部IO接口相连;所述待测试信号插座与所述待测试信号接口相匹配。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于李进;李国宁;王文华;张宁;朱鹏,未经李进;李国宁;王文华;张宁;朱鹏许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120525309.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top