[实用新型]测试程序优化的内存IC检测分类机有效
| 申请号： | 201120533664.6 | 申请日： | 2011-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN202332305U | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 朱玉萍;岑刚 | 申请（专利权）人： | 嘉兴景焱智能装备技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 314100 浙江省嘉善县大*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试程序优化的内存IC检测分类机。旨在提供一种结构简单、测试效率高的内存IC检测分类机。它包含：至少一个JEDEC托盘装上料传送模组，上料机械手，第一缓冲和预定位模组，抓取机械手，内存IC测试模组，第二缓冲和预定位模组，下料机械手，至少一个JEDEC托盘装下料传送模组，和与内存IC测试模组相连的内存IC测试系统，其中，内存IC测试模组是由多个IC测试模块阵列而形成，且按照包含相同数量IC测试模块的区域划分成多个相同的区域，内存测试系统通过电信号切换与这些相同区域的IC测试模块相连接。它不仅降低存IC测试系统的成本，而且各动作机构停留时间也会减短，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 程序 优化 内存 ic 检测 分类机 | ||
【主权项】：
测试程序优化的内存IC检测分类机，其特征在于，它包含：至少一个JEDEC托盘装上料传送模组，上料机械手，第一缓冲和预定位模组，抓取机械手，内存IC测试模组，第二缓冲和预定位模组，下料机械手，至少一个JEDEC托盘装下料传送模组，和与内存IC测试模组相连的内存IC测试系统，其中，内存IC测试模组是由多个IC测试模块阵列而形成，且按照包含相同数量IC测试模块的区域划分成多个相同的区域，内存测试系统通过电信号切换与这些相同区域的IC测试模块相连接。
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