[实用新型]外加电场测试台架及薄膜测试平台有效

专利信息
申请号: 201120559975.X 申请日: 2011-12-28
公开(公告)号: CN202471623U 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 李晓龙;顾月良;何庆;黎忠;周兴泰;徐洪杰 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20;G01R31/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 朱水平;杨东明
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种外加电场测试台架及薄膜测试平台,包括一底座,所述底座设置在一旋转轴上方,底座上方中央设置一样品台;一对“T”形支架,设置在所述底座两端的端面上;一对能够在多个维度上进行位置调节的探针台,分别设置在所述“T”形支架上;一对探针夹具,包括探针插口,分别设置在所述探针台上;以及一对与所述探针夹具绝缘的金属探针,通过所述探针插口固定设置在所述探针夹具上。本实用新型结构合理,操作方便,可以在进行衍射研究的同时对样品进行转动调整,大大提高了薄膜材料的基础物质属性研究实验效率。
搜索关键词: 外加 电场 测试 台架 薄膜 平台
【主权项】:
一种外加电场测试台架,其特征在于:所述台架包括:一底座,所述底座设置在一旋转轴上方,底座上方中央设置一样品台;一对“T”形支架,设置在所述底座两端的端面上;一对能够在多个维度上进行位置调节的探针台,分别设置在所述“T”形支架上;一对探针夹具,包括探针插口,分别设置在所述探针台上;以及一对与所述探针夹具绝缘的金属探针,通过所述探针插口固定设置在所述探针夹具上。
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