[发明专利]开关无效
申请号: | 201180002141.1 | 申请日: | 2011-03-16 |
公开(公告)号: | CN102714113A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 飞田孝吉;森田和明 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | H01H35/00 | 分类号: | H01H35/00;H01H21/28 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人: | 杨勇;郑建晖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在限位开关的柱塞中以使得入射到光接收元件上的光量随所述柱塞的位移而变化的方式形成缝。所述限位开关设有:设定处理单元(123),用于在所述柱塞移位到一指定位置的状态下由用户输入设定指令时将从所述光接收元件输出的电压值设定为一个阈值;位置检测单元(113),用于执行以下检测处理,即通过比较设定的阈值和从所述光接收元件输出的电压值来检测所述柱塞是更靠近所述参考位置还是更靠近所述指定位置;以及输出信号控制单元(119),用于基于所述检测处理的结果来输出信号。因此,可以提供用于根据移位构件的位置来输出信号的开关,所述开关能够在不需要调整螺钉的情况下根据移位构件的期望位置容易地输出信号。 | ||
搜索关键词: | 开关 | ||
【主权项】:
一种开关,包括:移位构件,将根据外力而移位;信号输出装置,用于根据所述移位构件的位置来输出信号;光发射元件,用于从光发射表面发射光;以及光接收元件,具有面向所述光发射表面的光接收表面,所述光接收元件用于输出表示入射到所述光接收表面上的光量的特征量,其中所述移位构件布置在所述光发射表面和所述光接收表面之间,并且当不存在外力时位于参考位置,供光穿过的开口,所述开口在所述移位构件中以如下方式形成:使得在从所述光发射表面发射的光中入射到所述光接收表面上的光量根据所述移位构件的位移而变化,所述开关还包括:设定处理装置,用于在所述移位构件移位到一指定位置的状态下输入设定指令时将从所述光接收元件输出的特征量设定为一个阈值;以及位置检测装置,用于执行以下检测处理,即通过比较由所述设定处理装置设定的阈值和由所述光接收元件输出的特征量来检测所述移位构件是更靠近所述参考位置还是更靠近所述指定位置,并且所述信号输出装置基于由所述位置检测装置执行的检测处理的结果来输出信号。
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