[发明专利]具有欠压检测电路的数据处理系统有效
申请号: | 201180007153.3 | 申请日: | 2011-01-19 |
公开(公告)号: | CN102725799A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | C·C·达奥;S·皮尔特里;A·L·维拉斯鲍艾斯 | 申请(专利权)人: | 飞思卡尔半导体公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00;G01R19/165 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘倜 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种欠压检测电路(16)包括第一电阻性元件(38)、第一晶体管(46)、第二晶体管(50)、和比较器(40)。第一电阻性元件(38)具有耦接到第一电源电压端子的第一端子、以及第二端子。第一晶体管(46)具有第一导电类型,并且具有耦接到所述第一电阻性元件(38)的第二端子的第一电流电极、控制电极、和第二电流电极。第二晶体管(50)为第二导电类型,并具有耦接到第一晶体管(46)的第二电流电极的第一电流电极、控制电极、和耦接到第二电源电压端子的第二电流电极。比较器(40)具有耦接到所述第一电阻性元件(38)的第一端子的第一输入端子、耦接到第一电阻性元件(38)的第二端子的第二输入端子、以及用于提供欠压检测信号的输出端子。 | ||
搜索关键词: | 具有 检测 电路 数据处理系统 | ||
【主权项】:
一种欠压检测电路,包括:第一电阻性元件,其具有第一端子以及第二端子,该第一端子耦接到第一电源电压端子;第一导电类型的第一晶体管,其具有耦接到所述第一电阻性元件的第二端子的第一电流电极、控制电极、和第二电流电极;第二导电类型的第二晶体管,其具有耦接到第一晶体管的第二电流电极的第一电流电极、控制电极、以及耦接到第二电源电压端子的第二电流电极;以及比较器,其具有耦接到所述第一电阻性元件的第一端子的第一输入端子、耦接到第一电阻性元件的第二端子的第二输入端子、以及用于提供欠压检测信号的输出端子。
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