[发明专利]半导体器件的制造方法、基板处理装置以及半导体器件无效
申请号: | 201180007356.2 | 申请日: | 2011-01-20 |
公开(公告)号: | CN102741981A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 山崎裕久 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立国际电气 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L21/31;H01L21/316 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;孟祥海 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体器件的制造方法、基板处理装置以及半导体器件。实现具有高介电常数且在高温状态下稳定的电容绝缘膜的形成。所述半导体器件的制造方法通过进行以下工序来形成规定的膜,该工序包括:向收容基板的处理室供给包含第一元素的第一原料,使第一原料吸附于在基板的表面上;在使第一原料进行吸附之后,向处理室供给包含第二元素的第二原料,使第二原料吸附在基板的表面上;向处理室供给包含第三元素的第三原料,来对基板的表面进行改性;以及去除处理室内的环境气体,其中,相对于吸附在基板的表面上的第一原料的饱和吸附量,调整第一原料的吸附量和第二原料的吸附量,由此控制膜中的第二元素的含有量。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 制造 方法 处理 装置 以及 | ||
【主权项】:
一种半导体器件的制造方法,其通过进行以下工序来形成规定的膜,该工序包括如下步骤:向收容基板的处理室供给包含第一元素的第一原料,使上述第一原料吸附在上述基板的表面上的步骤;在使上述第一原料吸附之后,向上述处理室供给包含第二元素的第二原料,使上述第二原料吸附在上述基板的表面上的步骤;向上述处理室供给包含第三元素的第三原料,来对上述基板的表面进行改性的步骤;以及去除上述处理室内的环境气体的步骤,在该半导体器件的制造方法中,相对于吸附在上述基板的表面上的上述第一原料的饱和吸附量,调整上述第一原料的吸附量和上述第二原料的吸附量,由此控制上述膜中的第二元素的含有量。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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