[发明专利]自动分析装置无效
| 申请号： | 201180007538.X | 申请日： | 2011-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN102725642A | 公开（公告）日： | 2012-10-10 |
| 发明（设计）人： | 沙希德·萨瓦尔;田中一启 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/10 | 分类号： | G01N35/10;G01N1/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 丁文蕴;李延虎 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供自动分析装置，其具有：容纳测定对象试样（1）的试样容器（2）、分注测定对象试样（2）的分注探针（5）、以及可装卸地安装于分注探针（5）中与测定对象试样（2）的浸渍部分的导电性针头（11），检测分注探针（5）的针头（11）与作为自动分析装置所预先决定的基准电位的接地电位（9）间的静电电容，并根据该检测结果来判定针头（11）对分注探针（5）的安装状态。由此，提供能够迅速检测针头从探针的脱落的情况的自动分析装置。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种自动分析装置，其进行测定对象试样的分析，其特征在于，具有：容纳上述测定对象试样的试样容器；分注上述测定对象试样的探针机构；可装卸地安装于上述探针机构中与上述测定对象试样的浸渍部分的导电性针头；检测上述探针机构的针头与上述自动分析装置上预先决定的基准电位间的静电电容的静电电容检测部；以及根据上述静电电容检测部的检测结果来判定上述针头对探针机构的安装状态的安装状态判定部。
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