[发明专利]Al基合金溅射靶无效

专利信息
申请号: 201180010694.1 申请日: 2011-02-25
公开(公告)号: CN102770576A 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: 岩崎祐纪;松本克史;高木敏晃;长尾护;莳野秀忠 申请(专利权)人: 株式会社神户制钢所;株式会社钢臂功科研
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C22C21/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 雒运朴
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种技术,其在使用Al基合金溅射靶时,即使进行高速成膜也能够抑制飞溅的发生。本发明涉及一种Al基合金溅射靶,其含有Ni和稀土元素,在利用背散射电子衍射像法对上述Al基合金溅射靶的表层部、1/4×t(t:Al基合金溅射靶的厚度)部、1/2×t部的各溅射面的法线方向的结晶方位<001>、<011>、<111>、<012>及<112>进行观察时,满足以下要件:(1)在将上述<001>±15°、上述<011>±15°及上述<112>±15°的总面积率设为R(各处的R中,上述表层部为Ra,上述1/4×t部为Rb,上述1/2×t部为Rc)时,R为0.35以上且0.80以下,并且,(2)上述Ra、上述Rb及上述Rc在R平均值[Rave=(Ra+Rb+Rc)/3]的±20%的范围内。
搜索关键词: al 合金 溅射
【主权项】:
一种Al基合金溅射靶,其特征在于,含有Ni和稀土元素,设t为Al基合金溅射靶的厚度,在利用背散射电子衍射像法对所述Al基合金溅射靶的表层部、1/4×t部、1/2×t部的各溅射面的法线方向的结晶方位<001>、<011>、<111>、<012>及<112>进行观察时,满足下述(1)、(2)的要件:(1)在将所述<001>±15°、所述<011>±15°及所述<112>±15°的总面积率设为R时,R为0.35以上且0.80以下,其中,各处的R中,所述表层部为Ra,所述1/4×t部为Rb,所述1/2×t部为Rc,并且(2)所述Ra、所述Rb及所述Rc是在R平均值[Rave=(Ra+Rb+Rc)/3]的±20%的范围内。
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