[发明专利]用于确定散射光测量设备的测量结果质量的方法和装置有效
申请号: | 201180011085.8 | 申请日: | 2011-01-03 |
公开(公告)号: | CN102762972A | 公开(公告)日: | 2012-10-31 |
发明(设计)人: | K.施坦格尔;G.哈加;M.诺伊恩多夫;R.西格 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;G01N21/47;G01N21/53 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李少丹;卢江 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 用于确定散射光测量设备(3)的测量结果质量的一种方法,其中该散射光测量设备具有至少一个散射光测量室(26)、至少一个光源(4)和至少一个光传感器(6a,6b),其中该方法包含以下的步骤:确定在该散射光测量设备的参考状态中所记录的两个散射光传感器信号(S1,S2)之间的差R;确定在该散射光测量设备的使用状态中所记录的两个散射光传感器信号(M1,M2)之间的差(D);比较在使用状态中所记录的信号差(D)与在参考状态中所记录的信号差(R)。 | ||
搜索关键词: | 用于 确定 散射 测量 设备 结果 质量 方法 装置 | ||
【主权项】:
用于确定散射光测量设备(3)的测量结果质量的方法,该散射光测量设备被设置用于测量汽车尾气中的微粒浓度,并具有至少一个散射光测量室(26)、至少一个光源(4)和至少一个光传感器(6a,6b),其中该方法具有以下的步骤:A)在该散射光散射光测量设备的参考状态中:A1)在该散射光测量设备的定义的第一运行状态中测量并存储第一散射光传感器信号(S1);A2)在该散射光测量设备的定义的第二运行状态中测量并存储第二散射光传感器信号(S2);A3)确定并存储在该第二散射光传感器信号(S2)与该第一散射光传感器信号(S1)之间的参考信号差(R);B)在该散射光散射光测量设备的使用状态中:B1)在该散射光测量设备的定义的第一运行状态中测量并存储第一散射光传感器信号(M1);B2)在该散射光测量设备的定义的第二运行状态中测量并存储第二散射光传感器信号(M2);B3)确定并存储在该第二散射光传感器信号(M2)与该第一散射光传感器信号(M1)之间的信号差(D);C)把在使用状态中的信号差(D)与在参考状态中所记录的参考信号差R相比较。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗伯特·博世有限公司,未经罗伯特·博世有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180011085.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。