[发明专利]齿轮测量装置的校正方法有效

专利信息
申请号: 201180011696.2 申请日: 2011-03-25
公开(公告)号: CN102782441A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 增尾光一;大槻直洋;柳瀬吉言 申请(专利权)人: 三菱重工业株式会社
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/20
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 岳雪兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种齿轮测量装置的校正方法,求出齿形斜度误差的差(△α),该差(△α)是通过基圆的切线方向扫描方法求齿轮齿形时的齿形斜度误差(α1)与通过基圆的切线方向以外的扫描方法求齿轮齿形时的齿形斜度误差(α2)的偏差,使用齿形斜度误差的差(△α)和齿轮各要素来求位置误差(△x),根据位置误差(△x)来校正测头的位置。由此,不使用机械基准部件就能够校正测头的位置。
搜索关键词: 齿轮 测量 装置 校正 方法
【主权项】:
一种齿轮测量装置的校正方法,齿轮测量装置具有:测量器具,其在使测头与被测量齿轮的齿面接触时,输出表示所述测头与所述被测量齿轮接触位置的位置信号,且沿三维方向的各方向被驱动;运算机构,其通过运算处理所述位置信号来测量所述被测量齿轮,其特征在于,具有:求所述被测量齿轮的齿形斜度误差(α1)的工序,其与使所述测头向基圆的切线方向移动同步,使所述被测量齿轮围绕其旋转轴旋转,对所述测头与所述被测量齿轮的齿面接触时输出的位置信号进行运算处理,求出所述被测量齿轮的齿形,从该齿形来求所述被测量齿轮的齿形斜度误差(α1);求所述被测量齿轮的齿形斜度误差(α2)的工序,其与使所述测头向基圆切线方向以外的方向移动同步,使所述被测量齿轮围绕其旋转轴旋转,对所述测头与所述被测量齿轮的齿面接触时输出的位置信号进行运算处理,求出所述被测量齿轮的齿形,从该齿形来求所述被测量齿轮的齿形斜度误差(α2);计算齿形斜度误差的差(△α)的工序,该齿形斜度误差的差(△α)是所述齿形斜度误差(α1)与所述齿形斜度误差(α2)的差;求所述测头位置误差(△x)的工序,其使用所述齿形斜度误差的差(△α)和所述被测量齿轮的齿轮各要素来求所述测头的位置误差(△x);校正位置工序,其根据所述位置误差(△x)来校正所述测头的位置。
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