[发明专利]校正使用坐标定位设备所获得的测量的误差有效
| 申请号： | 201180011742.9 | 申请日： | 2011-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN103250025B | 公开（公告）日： | 2017-03-29 |
| 发明（设计）人： | 凯维恩·巴里·乔纳斯 | 申请（专利权）人： | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04 |
| 代理公司： | 北京金思港知识产权代理有限公司11349 | 代理人： | 邵毓琴 |
| 地址： | 英国格*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 描述了一种操作坐标定位设备的方法，该坐标定位设备具有测量探针（18）。该方法包括步骤在一系列名义相同零件中取得第一零件（24），与第一零件（24）的一个或多个特征相关联的至少第一基准几何特性是已知的。也进行步骤使用坐标定位设备测量第一零件（24）的一个或多个特征，并且由此确定第一测量几何特性，该第一测量几何特性与第一基准几何特性相对应。然后确定第一特性校正值，该第一特性校正值描述在第一基准几何特性与第一测量几何特性之间的差别。然后使用坐标定位设备测量在一系列名义相同零件中的一个或多个另外零件的一个或多个特征，并且对于每个另外零件，确定另外的测量几何特性，该另外的测量几何特性与第一基准几何特性相对应。然后将第一特性校正值应用于每个另外的测量几何特性。也描述了一种对应坐标定位设备。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 使用 坐标 定位 设备 获得 测量 误差 | ||
【主权项】：
一种操作坐标定位设备的方法，该坐标定位设备具有测量探针，所述方法按任何适当顺序包括如下步骤：(i)在一系列名义相同零件中取得第一零件，与第一零件的一个或多个特征相关联的至少一第一基准几何特性是已知的，(ii)使用测量探针来测量第一零件的所述一个或多个特征，并且由此计算第一零件的一个第一测量几何特性，该第一测量几何特性与所述第一基准几何特性相对应，所述第一基准几何特性由在第一零件的表面上的由坐标定位设备测量的多个点的位置确定，(iii)将所述第一基准几何特性与所述第一测量几何特性相比较，并且计算一个第一特性校正值，该第一特性校正值描述所述第一基准几何特性与所述第一测量几何特性之间的差别，(iv)使用坐标定位设备来测量在一系列名义相同零件中的多个另外零件的一个或多个特征，并且对于每个另外零件，确定一个另外的测量几何特性，该另外的测量几何特性与所述第一基准几何特性相对应，以及(v)将所述第一特性校正值应用于每个另外的测量几何特性。
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