[发明专利]光学测量装置、光学测量系统以及校正用组件有效
申请号: | 201180016464.6 | 申请日: | 2011-10-25 |
公开(公告)号: | CN102821672A | 公开(公告)日: | 2012-12-12 |
发明(设计)人: | 后野和弘 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯医疗株式会社 |
主分类号: | A61B1/00 | 分类号: | A61B1/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在光学测量装置(2)中,具备:校正用构件(41),其在对光学测量装置(2)和测量探头(3)进行校正处理时成为照明光的照射对象;壳体构件(42),其形成有插入部(42a)、容纳部(42b)以及开口部(42c),其中,该插入部(42a)能够使测量探头(3)的前端插入,该容纳部(42b)与插入部(42a)相连通且能够使校正用构件(41)沿着插入部(42a)的贯通方向移动,该开口部(42c)与容纳部(42b)相连通且保持开关部(25)的至少被施加操作力的部分,该壳体构件针对开关部(25)进行配置,使得当通过从插入部(42a)插入测量探头(3)而使校正用构件(41)到达容纳部(42b)内的规定位置时对开关部(25)施加操作力;以及控制部(27),其在电源(21)已启动时,进行开始校正处理的控制。 | ||
搜索关键词: | 光学 测量 装置 系统 以及 校正 组件 | ||
【主权项】:
一种光学测量装置,具备根据从外部施加的操作力启动电源的开关部,连接至被导入被检体内的测量探头的基端部,输出从上述测量探头的前端照射的照明光,另外接收经由上述测量探头入射的上述照明光的反射光和/或散射光,由此进行光学测量,该光学测量装置的特征在于,具备:校正用构件,其在利用上述照明光对该光学测量装置和上述测量探头进行校正处理时成为上述照明光的照射对象;壳体构件,其形成有插入部、容纳部以及开口部,其中,该插入部能够使上述测量探头的前端插入,该容纳部与上述插入部相连通且能够使上述校正用构件沿着上述插入部的贯通方向移动,该开口部与上述容纳部相连通且保持上述开关部中的至少被施加操作力的部分,并且该壳体构件针对上述开关部进行配置,使得当通过从上述插入部插入上述测量探头来使上述校正用构件到达上述容纳部内的规定位置时对上述开关部施加操作力;以及控制部,在启动了上述电源时该控制部进行开始上述校正处理的控制。
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