[发明专利]轮廓测量装置有效

专利信息
申请号: 201180020970.2 申请日: 2011-04-26
公开(公告)号: CN102859318A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 伊藤由佳;藤泽晴彦 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 曹瑾
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及缩减因振动影响而造成的3D轮廓的测量误差的轮廓测量装置。轮廓测量装置设置有轮廓测量单元、位置获取单元、轮廓计算单元、偏斜检测单元、以及控制器单元。该轮廓测量单元具有用于将图案投影到被测量物体上的投影单元、和将该图案成像的成像单元。该位置获取单元获取该图案在被测量物体上的位置。该轮廓计算单元基于来自成像单元的图像信息和来自位置获取单元的位置信息来计算被测量物体的轮廓。该偏斜检测单元检测投影单元的偏斜。该控制单元基于由偏斜检测单元检测到的投影单元的偏斜,来执行对轮廓测量单元的主动修正和/或对轮廓计算单元的被动修正。
搜索关键词: 轮廓 测量 装置
【主权项】:
一种轮廓测量装置,包括:轮廓测量单元,具有用于将预定图案投影到被测量物体上的投影单元、和用于将由投影单元投影的图案成像的成像单元;位置获取单元,获取轮廓测量单元的位置;轮廓计算单元,被连接以使得能够与成像单元和位置获取单元通信,并且基于来自成像单元的图像信息和来自位置获取单元的位置信息来计算被测量物体的轮廓:偏斜检测单元,检测投影单元的偏斜;以及控制单元,连接至偏斜检测单元,并且基于由偏斜检测单元检测的投影单元的偏斜,来执行对轮廓测量单元的位置控制或操作控制的主动修正、和对轮廓计算单元的计算操作的被动修正中的至少任一个。
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