[发明专利]Mo/Si多层的等离子体辅助沉积无效
申请号: | 201180021603.4 | 申请日: | 2011-04-29 |
公开(公告)号: | CN102985587A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | H·施赖伯;王珏 | 申请(专利权)人: | 康宁股份有限公司 |
主分类号: | C23C14/32 | 分类号: | C23C14/32;C23C14/22;C23C14/58 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 沙永生 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及用于极紫外光刻系统中所用反光镜的多层Mo/Si涂层,以及利用等离子体离子辅助沉积(PIAD)技术制备这种反光镜的方法。涂层沉积在适用于EUV光刻的基片上,是由40-100个Mo/Si周期组成的Mo/Si涂层,每个周期由一个Mo层上跟一个Si层组成。每个Mo层和Si层各自沉积至2-5nm范围内的规定的厚度或目标厚度,并且厚度变化控制在±0.1nm。在沉积涂层之前,利用来自等离子体源的等离子体对基片进行致密化处理和平滑处理,并且用等离子体使涂层的每个层变得致密和平滑。 | ||
搜索关键词: | mo si 多层 等离子体 辅助 沉积 | ||
【主权项】:
一种利用等离子体离子辅助沉积在基片表面上沉积Mo/Si薄膜的方法,所述方法具有以下步骤:提供真空室,并在所述室内:提供要在其上沉积涂层的基片;提供Mo涂层材料源和Si涂层材料源,利用电子束依次使所述Mo材料和所述Si材料气化,提供涂层材料蒸气流,所述涂层材料蒸气流中的每种蒸气流从所述材料源通过反掩模,到达所述基片;从等离子体源提供等离子体离子;以选定的旋转频率f旋转所述基片;以及在所述基片上依次沉积一层所述Mo涂层材料和一层所述Si涂层材料,形成一个Mo/Si涂层周期,并且至少在沉积所述材料期间和之后,用等离子体离子轰击所述涂层中的每个涂层以及所述周期,使每层变得致密和平滑;以及多次重复所述沉积步骤,在所述基片上形成具有多个周期的Mo/Si涂层;其中在所述Mo和Si涂层材料源中的每个涂层材料源之间提供侧面防护罩,防止污染所述等离子体源,并且在沉积Mo层和Si层之前,用来自等离子体源的等离子体使基片表面变得致密和平滑。
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