[发明专利]用于物理参数的光学测量的设备无效

专利信息
申请号: 201180023144.3 申请日: 2011-05-10
公开(公告)号: CN102906534A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 奥利维尔·伯纳尔;弗朗西斯·博尼;蒂埃里·博施;奥斯曼·扎比特 申请(专利权)人: 图卢兹国立综合理工学院
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01S17/32;G01S17/58
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李春晖;王娜丽
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及一种用于物理参数的光学测量的测量设备(10),该测量设备包括:激光光源(11),用于在目标的方向上产生测量光束并用于接收被所述目标反射的测量光束,所述测量光束沿着光路行进,所述光路的变化是被确定的物理参数的函数,以及所述激光光源包括光学腔(111);针对所述激光光源(11)的运动传感器(14);用于根据在所述激光光源(11)处测量到的信号和所述运动传感器(14)测量到的信号来计算所述物理参数的装置(15)。
搜索关键词: 用于 物理 参数 光学 测量 设备
【主权项】:
一种用于物理参数的光学测量的测量设备(10),其特征在于,所述测量设备包括:激光光源(11),用于在目标(20)的方向上产生测量光束并用于接收被所述目标反射的测量光束,所述测量光束沿着随所要确定的物理参数而变化的光路行进,所述激光光源包括光学腔(111);针对所述激光光源(11)的运动传感器(14);计算装置(15),用于根据在所述激光光源(11)处测量到的信号和所述运动传感器(14)测量到的信号来计算所述物理参数。
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