[发明专利]功率半导体装置有效
申请号: | 201180025732.0 | 申请日: | 2011-03-23 |
公开(公告)号: | CN102893402A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | M.拉希莫;A.科普塔;C.冯阿尔克斯;M.安德纳 | 申请(专利权)人: | ABB技术有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/739 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 汤春龙;朱海煜 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 提供功率半导体装置(1),功率半导体装置(1)在发射极侧(11)上的发射电极(2)与集电极侧(15)上的集电极(25)之间具有不同导电类型的层。该装置包括:-第一导电类型的漂移层(6),-第二导电类型的第一基极层(4),第一基极层(4)设置在漂移层(6)与发射电极(2)之间,所述第一基极层(4)与发射电极(2)直接电接触,-第一导电类型的第一源区(5),其设置在发射极侧(11)上嵌入第一基极层(4)中,并且接触发射电极(2),所述第一源区(5)相比漂移层(6)具有更高的掺杂浓度,-第一栅电极(3),其与第一基极层(4)、第一源区(5)和漂移层(6)电绝缘,并且所述第一栅电极(3)设置在与第一基极层(4)相同的平面中并且在其侧部,并且比第一基极层(4)更深地延伸到漂移层(6)中。-第二导电类型的第二基极层(45),其设置在与第一基极层(4)相同的平面中并且在其侧部,-第二栅电极(35),其设置在发射极侧(11)的顶部,以及–第一导电类型的第二源区(55),其设置在发射极侧(11)上嵌入第二基极层(45)中,并且延伸到第二栅电极(35)下面的区中,所述第二源区(55)相比漂移层(6)具有更高的掺杂浓度,其中第二栅电极(35)通过第二绝缘层(36)与第二基极层(45)、第二源区(55)和漂移层(6)电绝缘。 | ||
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【主权项】:
一种具有不同导电类型的层的功率半导体装置(1),所述层设置在发射极侧(11)上的发射电极(2)与相对所述发射极侧(11)设置的集电极侧(15)上的集电极(25)之间,所述层包括:‑ 第一导电类型的漂移层(6),其设置在所述发射极侧(11)与所述集电极侧(15)之间,‑ 第二导电类型的第一基极层(4),其设置在所述漂移层(6)与所述发射电极(2)之间,所述第一基极层(4)与所述发射电极(2)直接电接触,‑ 所述第一导电类型的第一源区(5),其设置在所述发射极侧(11)嵌入所述第一基极层(4)中并且接触所述发射电极(2),所述第一源区(5)相比所述漂移层(6)具有更高的掺杂浓度,‑ 第一栅电极(3),其通过第一绝缘层(31)与所述第一基极层(4)、所述第一源区(5)和所述漂移层(6)电绝缘,并且所述第一栅电极(3)设置在与所述第一基极层(4)相同的平面中并且在其侧部并且比所述第一基极层(4)更深地延伸到所述漂移层(6)中,在所述发射电极(2)、所述第一源区(5)、所述第一基极层(4)和所述漂移层(6)之间可形成沟道,‑ 所述装置还包括所述第二导电类型的第二基极层(45)、所述第一导电类型的第二源区(55)和第二栅电极(35),其中所述第二栅电极(35)设置在所述发射极侧(11)的顶部,并且所述第二栅电极(35)通过第二绝缘层(36)与所述第二基极层(45)、所述第二源区(55)和所述漂移层(6)电绝缘,所述第二源区(55)设置在所述发射极侧(11)嵌入所述第二基极层(45)中并且延伸到所述第二栅电极(35)下面的区中,所述第二源区(55)相比所述漂移层(6)具有更高的掺杂浓度,其特征在于所述第二基极层(45)设置在与所述第一基极层(4)相同的平面中并且在其侧部,并且在于所述第二源区(55)没有直接连接到所述发射电极(2),使得不可形成通过其中电荷载流子能够通过所述第二源区(55)、所述第二基极层(45)从所述发射电极(2)直接流到所述漂移层(6)的沟道。
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