[发明专利]半导体装置和在目标基板中形成结构以制造半导体装置的方法无效
申请号: | 201180026604.8 | 申请日: | 2011-03-29 |
公开(公告)号: | CN103026459A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 克里斯特·古梅柳斯 | 申请(专利权)人: | 飞兆半导体公司 |
主分类号: | H01L21/04 | 分类号: | H01L21/04;H01L29/06;H01L29/24;H01L29/732;H01L21/308 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 张英;王玉桂 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供了一种半导体装置和在目标基板中形成结构以制造半导体装置的方法。该方法包括以下步骤:在目标基板(110)上提供掩模层(120),并在掩模层中提供阶梯状轮廓(122),使得阶梯状轮廓的阶梯的高度比掩模层的厚度小。此外,该方法包括以下步骤:同时执行掩模层和目标基板的各向异性刻蚀,使得在目标基板中形成具有阶梯状轮廓(124)的结构。半导体装置包括这样的目标基板,包括由第一类型的半导体材料制成的第一区域和由第二类型的半导体材料制成的第二区域。第一和第二类型的半导体材料是不同的,并且,第一和第二区域是相邻的,以形成半导体装置的有源区域。在第一和第二区域之间的结处,半导体装置包括具有阶梯状轮廓的结构。本发明是有利的,因为其提供了一种具有改进特性的半导体装置。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 目标 基板中 形成 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种在目标基板(150)中形成结构以制造双极结晶体管(100)的方法,所述方法包括:在所述目标基板(150)上提供掩模层(120);在所述掩模层中提供阶梯状轮廓(122),使得所述阶梯状轮廓的阶梯的高度小于所述掩模层的厚度;并且同时执行所述掩模层和所述目标基板的各向异性刻蚀,使得在所述目标基板中形成具有阶梯状轮廓(124)的结构,其中,将所述目标基板中的所述阶梯状轮廓布置在所述双极结晶体管的有源区域中。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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