[发明专利]半导体装置和在目标基板中形成结构以制造半导体装置的方法无效

专利信息
申请号: 201180026604.8 申请日: 2011-03-29
公开(公告)号: CN103026459A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 克里斯特·古梅柳斯 申请(专利权)人: 飞兆半导体公司
主分类号: H01L21/04 分类号: H01L21/04;H01L29/06;H01L29/24;H01L29/732;H01L21/308
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 张英;王玉桂
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了一种半导体装置和在目标基板中形成结构以制造半导体装置的方法。该方法包括以下步骤:在目标基板(110)上提供掩模层(120),并在掩模层中提供阶梯状轮廓(122),使得阶梯状轮廓的阶梯的高度比掩模层的厚度小。此外,该方法包括以下步骤:同时执行掩模层和目标基板的各向异性刻蚀,使得在目标基板中形成具有阶梯状轮廓(124)的结构。半导体装置包括这样的目标基板,包括由第一类型的半导体材料制成的第一区域和由第二类型的半导体材料制成的第二区域。第一和第二类型的半导体材料是不同的,并且,第一和第二区域是相邻的,以形成半导体装置的有源区域。在第一和第二区域之间的结处,半导体装置包括具有阶梯状轮廓的结构。本发明是有利的,因为其提供了一种具有改进特性的半导体装置。
搜索关键词: 半导体 装置 目标 基板中 形成 结构 制造 方法
【主权项】:
一种在目标基板(150)中形成结构以制造双极结晶体管(100)的方法,所述方法包括:在所述目标基板(150)上提供掩模层(120);在所述掩模层中提供阶梯状轮廓(122),使得所述阶梯状轮廓的阶梯的高度小于所述掩模层的厚度;并且同时执行所述掩模层和所述目标基板的各向异性刻蚀,使得在所述目标基板中形成具有阶梯状轮廓(124)的结构,其中,将所述目标基板中的所述阶梯状轮廓布置在所述双极结晶体管的有源区域中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于飞兆半导体公司,未经飞兆半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180026604.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top