[发明专利]用于制造光电子半导体芯片的方法和光电子半导体芯片有效

专利信息
申请号: 201180029852.8 申请日: 2011-05-26
公开(公告)号: CN102947936A 公开(公告)日: 2013-02-27
发明(设计)人: L.赫佩尔;N.冯马尔姆 申请(专利权)人: 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L33/00;H01L33/44;H01L33/40;H01L33/38;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 杜荔南;朱海煜
地址: 德国雷*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 说明一种用于制造光电子半导体芯片的方法,具有步骤:-提供n导通层(2),-将p导通层(4)布置在n导通层(2)上,-将金属层序列(5)布置在p导通层(4)上,-将掩模(6)布置在金属层序列(5)的背向p导通层(4)的侧上,-在使用掩模(6)的情况下局部地侵蚀金属层序列(5)并且暴露p导通层(4),以及-在使用掩模(6)的情况下局部地中和或去除p导通层(4)的所暴露的区域(4a)直至n导通层(2),其中-金属层序列(5)包括至少一个镜层(51)和阻挡层(52),以及-金属层序列(5)的镜层(52)朝向p导通层(4)。
搜索关键词: 用于 制造 光电子 半导体 芯片 方法
【主权项】:
用于制造光电子半导体芯片的方法,具有步骤:- 提供n导通层(2),- 将p导通层(4)布置在n导通层(2)上,- 将金属层序列(5)布置在p导通层(4)上,- 将掩模(6)布置在金属层序列(5)的背向p导通层(4)的侧上,- 在使用掩模(6)的情况下局部地侵蚀金属层序列(5)并且暴露p导通层(4),以及- 在使用掩模(6)的情况下局部地中和或去除p导通层(4)的所暴露的区域(4a)直至n导通层(2),其中- 金属层序列(5)包括至少一个镜层(51)和阻挡层(52),以及- 金属层序列(5)的镜层(52)朝向p导通层(4)。
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