[发明专利]自动分析装置及自动分析方法有效
| 申请号： | 201180030850.0 | 申请日： | 2011-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN103003684A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 田村太久夫;芝正树;足立作一郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N21/51 | 分类号： | G01N21/51;G01N35/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王亚爱 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明实现一种能减少测量对象物以外的噪声成分的散射光的影响从而改善光接收信号的S/N比特性的自动分析装置。在多个检测器(204～206)中以多个角度取得数据。检测数据选择部(18a)将由其中一个检测器取得的信号选择为基准信号。在第1选择数据处理部(18b)的近似式选择部(18b1)中选择应用的近似式，并使用选出的近似式由近似式计算部(18b2)来计算近似式。变动率计算部(18b3)求取基准信号的变动率。检测器(205)的信号由第2选择数据处理部(18c)进行保持，并通过数据校正部(18d)除以基准信号的变动率来实施。浓度运算处理部(18e)使用校正后的信号数据来进行浓度运算，并由结果输出部(18f)将结果输出至CRT等。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种自动分析装置，将来自光源的光照射至容纳有试料的反应容器，由光检测单元检测通过了上述反应容器的光，并由运算处理部基于检测出的光来分析上述反应容器内的试料，所述自动分析装置的特征在于，上述检测单元具有以相对于光源呈不同的角度所设置的多个光检测元件，上述运算处理部基于从上述多个检测元件中选出的一个检测元件的测量信号来计算基准数据，计算上述选出的一个检测元件的测量信号相对于计算出的基准数据的变动率，基于计算出的变动率，校正与上述选出的一个检测元件不同的检测元件的测量信号，并基于校正后的测量信号来分析上述试料。
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