[发明专利]分析装置以及分析方法有效
申请号: | 201180034012.0 | 申请日: | 2011-07-08 |
公开(公告)号: | CN102985807A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 光山训;大和田伯男;万里千裕;麻生定光 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N15/14 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;郭凤麟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在使用了分光单元和多检测器的流式细胞仪中,辅助进行实时的荧光强度测定前的最佳的波长频带设定。在信号处理单元中,存储测定校准试样而得到的多个波长频带的强度,计算、显示所述多个波长频带的每个波长频带的强度的分布。 | ||
搜索关键词: | 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种分析装置,其特征在于,具备:光源;使接收来自所述光源的光而发光的试样流过的流量计;对从所述试样发出的光进行分光的分光单元;具备针对每个不同波长检测从所述分光单元输出的光的多个检测器的检测部;对通过所述检测部检测出的光的信号进行信号处理的处理单元;接受对所述信号处理的指示输入的输入单元;存储所述信号处理的结果的存储部;以及显示处理的结果的输出部,所述存储部针对多个不同试样,按所述多个检测器的每个检测器存储检测出的光信号,针对所述光信号,将所述多个检测器中的强度按每个所述不同试样显示在所述输出部上,并且具有通过所述输入单元设定所述多个检测器中的至少一个检测器检测出的波长频带的频带设定单元。
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