[发明专利]具有用于对对齐特征进行成像的专用透镜的本体有效

专利信息
申请号: 201180037631.5 申请日: 2011-07-26
公开(公告)号: CN103038685A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: L.卡斯塔纳;R.D.米勒;D.E.吉利斯;D.E.德林杰 申请(专利权)人: 泰科电子公司
主分类号: G02B6/42 分类号: G02B6/42
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 吴艳
地址: 美国宾夕*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及用于将来自支撑在基底(70)上的光源的光聚焦到对应光纤中的透镜本体(10)。所述透镜本体包括光学透明的可模制材料的本体(12),该本体包括至少以下特征。它包括支撑至少一条光纤(120)的端口(14),该端口具有定位成当光纤支撑在端口中时与光纤接口的接触表面(16)。它还包括有源透镜(24),该有源透镜适用于与相应的光源光学协作以将光沿光源与对应光纤(120)之间的相应光路聚焦。它进一步包括:限定出观察表面(42)的至少一个对齐结构(40);和至少一个专用透镜(50),所述专用透镜定位在光源与对应的光纤(120)之间的任何光路之外且适用于将所述基底(70)上的对齐特征(74)的图像聚焦到观察表面(42)上。
搜索关键词: 具有 用于 对齐 特征 进行 成像 专用 透镜 本体
【主权项】:
一种透镜本体(10),用于将来自支撑在基底(70)上的至少一个光源的光聚焦到对应的光纤中,所述透镜本体包括:光学透明的可模制材料的本体(12),包括至少以下特征:用于支撑至少一条光纤(120)的端口(14),所述端口包括:定位成当所述光纤被支撑在所述端口中时与所述光纤进行接口的接触表面(16);有源透镜(24),适用于与相应的光源光学协作,以将光沿所述光源与对应的光纤(120)之间的相应光路进行聚焦;限定出观察表面(42)的至少一个对齐结构(40);和至少一个专用透镜(50),定位在光源与对应的光纤(120)之间的任何光路之外,且适用于将所述基底(70)上的对齐特征(74)的图像聚焦到所述观察表面(42)上。
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