[发明专利]用于释放可印刷化合物半导体器件的材料和过程有效
申请号: | 201180038489.6 | 申请日: | 2011-08-04 |
公开(公告)号: | CN103155114B | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
发明(设计)人: | M.梅特尔;C.鲍威尔;E.梅纳;J.卡特;A.格雷;S.博纳菲德 | 申请(专利权)人: | 森普留斯公司 |
主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306;H01L21/78;H01L31/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 徐小会;王忠忠 |
地址: | 美国北卡*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种制造可转印半导体器件的方法包括在衬底上提供包括磷化铟铝的释放层,并且在所述释放层上提供支撑层。所述支撑层和所述衬底包括各自的材料,如基于砷化物的材料,以使得所述释放层相对于所述支撑层和所述衬底具有蚀刻敏感性。在所述支撑层上提供至少一个器件层。选择性地蚀刻所述释放层,而基本上不蚀刻所述支撑层和所述基板。还公开了相关结构和方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 释放 可印刷 化合物 半导体器件 材料 过程 | ||
【主权项】:
一种制造可转印半导体器件的方法,所述方法包括:在衬底上提供包括磷化铟铝的释放层;在所述释放层上提供支撑层,所述支撑层和所述衬底包括各自的材料以使得所述释放层相对于所述支撑层和所述衬底具有蚀刻选择性;在所述支撑层中形成锚固和/或栓固结构;在所述支撑层上提供至少一个器件层;以及选择性蚀刻所述释放层,而不蚀刻所述支撑层和所述衬底,其中所述锚固和/或栓固结构被配置成在所述选择性蚀刻期间和之后维持所述半导体器件的空间定向。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造